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EMI-NF-PROBE近場探頭產(chǎn)品概述：
EMI-NF-PROBE近場探頭
EMI-NF-PROBE近場探頭
Tektronix 近場探頭
EMI-NF-探頭為TEKBOX TBPS01。這套磁場和電場探頭用于輻射發(fā)射EMC預符合性測量。探針用于近場電磁輻射源，用于定位和識別電子組件構件內的潛在干擾源。這種探測器的作用類似于寬頻帶天線，從元件、PCB軌跡、外殼開口或縫隙以及任何其他可能發(fā)射射頻的部件中接收輻射發(fā)射。
超薄設計，便于在緊密間隔的組件之間進行良好的訪問
屏蔽回路，避免拾取共模噪聲；對人手不敏感
頻率范圍高達6 GHz
用橡膠涂層絕緣
探針通常連接到頻譜分析儀
EMI近場探頭是主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器位置；檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實現(xiàn)定位功能
產(chǎn)品性能：
EMI近場探頭適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測量需求。
產(chǎn)品特點：
覆蓋有絕緣層的安全措施；
非常方便的設計包括涂橡膠握把；
非常小的尺寸，完善的干擾源定位；
可以由一個信號源驅動產(chǎn)生的電磁敏感性測試領域；
內容
EMC探頭組由H20、H10、H5、E5、75 cm SMB至SMA電纜、測量圖組成
