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泰克/吉時利DMM6500 6? 位數(shù)字觸摸屏萬用表
泰克/吉時利DMM6500 6? 位數(shù)字觸摸屏萬用表
DMM6500 是一種現(xiàn)代化臺式/ 系統(tǒng)DMM，提供了更多的測量功能、同類的測量能力，而且價格就不會超出您的預算。DMM6500 著名的特點是5 英寸(12.7 cm) 容性大觸摸屏顯示器，可以使用手勢體感，簡便地觀察、互動及瀏覽測量數(shù)據(jù)。除顯示技術(shù)外，DMM 6500 杰出的模擬測量性能提供了杰出的準確度，一年期基本DCV 準確度為25 PPM，兩年期基本DCV 準確度為30 PPM，可望延長您的校準周期。
DMM6500 配有您在臺式萬用表中預期的所有測量功能，因此不需要購買額外的測量功能。它有15 種測量功能，包括電容、溫度(RTD、熱電阻器和熱電偶)、使用可變電流源的二極管測試及高達1 MS/s 的模數(shù)轉(zhuǎn)換，這些現(xiàn)在都是標配。
A/D 轉(zhuǎn)換器，可以用來執(zhí)行電壓或電流測量，特別適合捕獲瞬態(tài)異常信號，或幫助繪制功率事件曲線，比如當今電池供電的器件的工作狀態(tài)。電流和電壓可以使用可編程 1MS/s 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器進行模數(shù)轉(zhuǎn)換，可以直接采集波形，而不用使用單獨的儀器。
主要特點
15種測量功能，包括電容、溫度和模數(shù)轉(zhuǎn)換
擴展測量范圍，包括 10 pA ~ 10 A 及 1 mΩ ~ 100 MΩ
5 英寸 (12.7 cm)多觸點容性大觸摸屏及圖形顯示器
大容量內(nèi)存，存儲多 700萬個讀數(shù)
多種語言模式：SCPI，TSP®腳本，Keithley 2000 SCPI仿真，Keysight 34401A SCPI 仿真
兩年期指標，延長校準周期
標配 USB-TMC和 LXI/ 以太網(wǎng)通信接口
選配的用戶自行安裝的通信接口包括：GPIB、TSP-Link®和RS-232
1MS/s A/D 位數(shù) 16bit 捕獲電壓或電流瞬態(tài)事件
USB 主控端口，存儲讀數(shù)、儀器配置和屏幕圖
三年保修
捕獲和分析電壓或電流瞬態(tài)事件
在當今電子設(shè)計中，功率分析正變得越來越重要。設(shè)計人員現(xiàn)在必須考慮更高效的元器件和復雜的系統(tǒng)設(shè)計，一般要求多種功率狀態(tài)。DMM6500 擁有所需的工具，可以幫助您設(shè)計和調(diào)試這些復雜的系統(tǒng)。8 種不同的電流范圍支持10 A 直到10 pA 的測量，為您測量功率狀態(tài)提供所需的動態(tài)范圍。此外，內(nèi)置1 MS/s 模數(shù)轉(zhuǎn)換功能可以幫助您捕獲瞬態(tài)事件，讓您查看和分析發(fā)生的瞬態(tài)信號。
在表征或繪制設(shè)計特點曲線時，通常需要進行一系列測量。在這些應用中，能實現(xiàn)自動多通道測量。DMM6500 配有一張掃描儀卡，支持多 10 通道開關(guān)，您可以進行自動多通道測量。用戶插入 2000-SCAN 卡后，可以實現(xiàn) 10 通道 2極測量或 5 通道 4 極測量。在開關(guān)拓撲支持的情況下，可以逐通道對函數(shù)編程。
應用程序
DMM6500 在出廠時裝有多種應用程序，幫助您更好地利用儀器。在 TSP 或原生 SCPI 通信語言模式下使用儀器時，這些應用程序就會出現(xiàn)。這些實例顯示了 DMM6500 *的功能，可以運行應用，量身定制用戶界面。這可以明顯改變信息顯示的方式，甚至自動執(zhí)行應用。
溫度測量應用
溫度是世界上測量多的信號類型之一，DMM6500 擁有許多選項，可以幫助您進行這一測量。除 RTD、熱電阻器和熱電偶功能外，您可以為 DMM 配備一張內(nèi)置 CJC 的 9 通道掃描儀卡，自動執(zhí)行熱電偶溫度掃描。在要求熱溫度曲線時，特別適合使用這種功能。
隨時可用的儀器驅(qū)動程序，簡化編程
使用自己定制的應用軟件？您可以下載National Instruments Labview、IVI-C 和 IVI-COM 原生驅(qū)動程序，簡化編程過程。Labview 驅(qū)動程序請訪問IVI 驅(qū)動程序請訪問
系統(tǒng)集成和編程
DMM6500 在編程方面為用戶提供了大的靈活性。除傳統(tǒng) SCPI 編程（默認狀態(tài)）外，它還配有專為 Keithley 2000 或Keysight 34401A 開發(fā)的 SCPI 仿真功能。此外，吉時利強大的測試腳本處理器（TSP®）編程提供了另一種選項，在速度至關(guān)重要時，可以實現(xiàn)*的單臺或多臺測試。
